美國泰克Tektronix TLA5203B邏輯分析儀

美國泰克Tektronix TLA5203B邏輯分析儀

TLA5000 系列邏輯分析儀主要特點和優點

▲ 500 ps/32 Mb 的深內存定時及每條通道上125 ps 的MagniVu 同步高分辨率定時，可以滿懷信心地對快速信號進行數字信號定時測量235 MHz 狀態采集，分析高速同步數字電路

▲ IView^TM 模擬和數字信號同時相關顯示，查看模擬問題怎樣影響您的數字信號

▲ 通過建立/保持時間超限觸發和顯示，檢驗數字設備的建立/保持時間性能

▲ 34/68/102/136 通道配置提供了靈活的解決方案,可以適應任何預算應用

▲ 數字硬件檢驗和調試

▲ 數字硬件性能監測和測量

▲ 單處理器和總線調試

　　調試時您需要的強大功能，使用時您想要的簡便性，購買時您可以承受的價格

美國泰克Tektronix TLA5203B邏輯分析儀對需要確定初始化故障、運行中斷和間歇性操作問題的任何數字設計人員，經濟型TLA5000 系列邏輯分析儀為他們提供了高速定時分辨率、深內存采集、快速狀態采集和完善的觸發功能。不管是*次使用邏輯分析儀的用戶還是資深用戶，TLA5000 系列都為同時進行狀態分析和定時分析提供了理想的解決方案。直觀的用戶界面、熟悉的基于Windows 的桌面和OpenChoice^TM 聯網和分析功能，使TLA5000 系列邏輯分析儀可以簡便地在用戶的設計環境中組網。

　　500 ps 的定時分辨率、高達32 MB 的內存深度、每條通道上125 ps 的MagniVu^TM 同步采集，使您能夠滿懷信心地在速度日益提高的信號上測量數字信號定時。由于MagniVu 的定時分辨率，您可以迅速找到各種困難的問題，如數字邏輯錯誤、毛刺、建立/保持時間超限和串擾。您可以使用建立/保持時間超限觸發和顯示，檢驗數字設備的建立/保持時間性能。

　　今天，大多數產品可能會同時具有數字問題和模擬問題。通過iView^TM 模擬和數字信號同時相關顯示，您可以在邏輯分析儀顯示屏上，清楚地查看模擬問題怎樣影響數字信號。

技術指標

MagniVu 和iView (模擬數字域聯合觀測)，與定時采集或狀態采集同步

深內存定時

zui大定時分辨率－500 ps (2 GHz)

zui大內存深度－每條通道32 Mb

MagniVu^TM

zui大定時分辨率－125 ps (8 GHz)

MagniVu 內存深度－每條通道16 Kb

狀態采集

zui大時鐘速率－235 MHz

zui大內存深度，帶時標－每條通道8 Mb

儀器選項
選項1C －增加iView 外部示波器電纜套件(012-1614-02)
選項1P －增加全套P6418 17 通道通用探頭(每個探頭包括兩條8通道引線束、一條1 通道引線束、20 個SMT KlipChip TM 抓斗*)
選項2P －增加全套P6434 34 通道高密度Mictor 探頭
選項3P －增加全套P6417 17 通道通用探頭，可以把8 通道適配夾小組分成多條通道(每個探頭包括兩條8 通道引線束、一條1 通道引線束、20 個SMT KlipChip 抓斗*)
選項4P －增加全套P6419 17 通道高密度壓縮探頭